電腦散熱器芯片測試設(shè)備冷熱沖擊試驗箱

電腦散熱器芯片測試設(shè)備冷熱沖擊試驗箱

結(jié)構(gòu)特證

1.機箱材質(zhì)

a.外箱材質(zhì):優(yōu)質(zhì)冷扎鋼板靜電噴塑。

b.內(nèi)箱材質(zhì):鏡面不銹鋼板。

c.保溫材質(zhì):高密度PU硬質(zhì)發(fā)泡。

d.外箱底座:國標角鐵 國標槽鋼 特殊防銹處理之電解板噴塑。

2.試驗機箱門:單片門×1套,左開,把手在右手邊。

a）材 質(zhì):不銹鋼（SUS#304）。

b）把 手:不銹鋼把手。

c）后 鈕:SUS#304。

d）窗 口:340×450×20（mm）三層真空玻璃層。

e）測 試 孔:機體左側(cè)50mm孔1只,附不銹鋼孔蓋1只,硅膠塞頭1只。

3.送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng):a.馬達:AC220V 60W1臺或多臺加長軸心。

b.風(fēng)扇多翼式扇葉（SIROCCOFAN）。

電腦散熱器芯片測試設(shè)備冷熱沖擊試驗箱

執(zhí)行與滿足標準

1.GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件。

2.GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件。

3.GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則。

4.GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗。

5.GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗。

6.GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫。

7.GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫。

8.GJB 150.9A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗華臺儀器主營產(chǎn)品。

9.GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗。

10.GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）。

性能特點：

1、氣動式閥門方便開啟，***氣密及斷熱保護；
2、試驗槽靜止，可由測試孔外加負載配線；
3、蓄能方式可避免使用者職業(yè)傷害；（注：液態(tài)氣體所產(chǎn)生的廢氣，吸入肺部致使肺部氧氣量減少，而產(chǎn)生工作倦怠，注意力不集中等）
4、溫度控制精度高，全部采用PID自動演算控制；
5、可選擇始動位置，高溫或低溫開始循環(huán)；
6、具有預(yù)約起動功能；